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產(chǎn)品中心
產(chǎn)品詳情

  • 產(chǎn)品名稱：蘇州代理Otsuka大塚納米SAQLA

  • 產(chǎn)品型號：
  • 產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚電子
  • 產(chǎn)品價格：0
  • 折扣價格：0
  • 產(chǎn)品文檔：
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簡單介紹：
一臺儀器可輕松連續(xù)測量 5 個樣本，無需自動采樣器即可實現(xiàn) 多個樣本的連續(xù)測量，也可以通過改變每個樣本的條件進行測量。 支持從稀釋到厚系統(tǒng) 標準測量時間 1 分鐘的高速測量 自動調整從厚系統(tǒng)到稀薄樣品的*佳測量位置，實現(xiàn)約 1 分鐘的高速測量 簡單易懂的測量功能（只需單擊一下即可 開始測量），無需復雜的操作 內置非浸沒式細胞塊，無分包的無孔， 每個細胞都是獨立的，因此無需擔心不成問題。 配備 溫度梯度功能，可輕松設置溫度
詳情介紹：
測量范圍（理論值）
  • 粒徑 0.6nm~10μm
  • 濃度范圍 0.00001-40%


  • 溫度范圍 0 至 90°C*

  • 規(guī)格

    仕　様
     型式  多検體ナノ粒子徑測定システム
     測定原理  動的光散亂法（光子相関法）
     光源  高出力半導體レーザー（660nm、70mW） *1
     検出器  高感度APD
     連続測定  *大5検體
     測定範囲  0.6nm ～ 10μm
     濃度範囲  0.00001 ～ 40% *2
     溫度範囲  0 ～ 90℃ （溫度グラジエント機能あり） *3
     サンプル容量  角セル：1.2mL～、微量セル：20μL～
     サイズ  W240 X D480 X H375 mm
     消費電力  AC 100～240V 50/60Hz、250VA
     重量  約18 kg
     ソフトウェア  平均粒子徑解析 （キュムラント法）
     粒子徑分布解析
     （Marquardt法/Contin法/NNLS/Unimodal法）
     粒度分布重ね書き
     逆相関関數(shù)?殘差プロット
     粒子徑モニター
     粒子徑表示範囲 （0.1 ～ 106 nm）
     分子量計算機能
     21 CFR Part11対応 *4
     オプション  微量セル（20μLから対応）、蛍光カットフィルター

    *1 本裝置はレーザーに関する**基準 （JIS C6802）のクラス1に區(qū)分される製品です
    *2 PS Latex粒子：0.00001 ～ 10％、タウロコール酸：～40%
    *3 パッチセルホルダーでカラスセルを使用する場合。
    5連セルホルダーやディスポセルを使用する場合は 15 ～ 40℃
    *4 オプションです



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