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  • 它是一種緊湊且價格低廉的膜厚計,可通過高精度光學干涉儀以簡單的操作實現(xiàn)膜厚測量。 我們采用了一體式的機殼,在主機中容納了必要的設備,從而實現(xiàn)了穩(wěn)定的數(shù)據(jù)采集。 通過以低價獲得優(yōu)良反射率可以分析光學常數(shù)。  
  • 多功能多通道光譜檢測器,支持紫外線至近紅外區(qū)域。光譜光譜至少可以在5毫秒內測量。標準光纖無需指定樣品類型即可支持各種測量系統(tǒng)。除了顯微光譜,光源發(fā)射,透射/反射測量之外,還可以通過與軟件結合來支持對象顏色評估,膜厚測量等。
  • OTSUKA大冢高靈敏度光譜輻射儀HS-1000
  • 多通道光譜儀MCPD系列,用于膜厚測量
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